F60對準自動膜厚測量系統 測厚儀

日本filmetrics對準自動膜厚測量系統F60 F60自動測繪膜厚測量系統是F50的高duan機型，具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。 只需將樣品放在載物臺上，然后單擊測量按鈕即可自動執行對齊、基線和膜厚映射。

更新日期：2024-03-20    訪問量：1574    

F50自動膜厚測量系統 測厚儀

日本filmetrics自動膜厚測量系統F50 F50自動測繪膜厚測量系統是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結合的系統。 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。

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F3-CS日本filmetrics臺式膜厚測量系統 測厚儀

日本filmetrics臺式膜厚測量系統F3-CS F3-CS是測量小樣品的測量系統。與測量臺集成的測量系統使其易于攜帶。 只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。

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F3-sX板厚測量系統 測厚儀

日本filmetrics板厚測量系統F3-sX 可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。 通過安裝初開發的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。

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F10-RT反射/透射/薄膜厚度測量系統 測厚儀

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。 只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調整光學系統，無需復雜的設置，而且設置非常簡單。

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F20膜厚測量系統 測厚儀

日本filmetrics膜厚測量系統F20 一種行業標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統，已在安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發到制造現場在線測量的廣泛應用。

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DMC-211渦流膜厚儀 測厚儀

日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211 高速和可操作性 短時間、無損測量是 99% 檢測的理想選擇 ?非破壞性測量和1秒內100％檢查的理想選擇? 使用個人計算機輕松校準和測量操作? 只需將探頭放在待測物體上即可自動捕獲測量值 ?特性曲線（校準曲線）是標準 70 內存 · 公司名稱、零件編號、批號為每個通道注冊

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電解膜厚儀CT-3 測厚儀

日本電測densoku電解膜厚儀CT-3 輕巧緊湊的機身 高操作性和功能性支持各種電鍍測量 ? 機身重量為 3.0 kg 的輕巧緊湊的機身 ? 可從任何電鍍范圍進行測量 ? 增加了高靈敏度范圍 ? ± 15% 的寬碳率范圍 ? C 墊片范圍標準設備

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GCT-311電解式膜厚儀 測厚儀

日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311 Windows 規格，全功能可實現多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用 Windows 規格輕松處理數據 -多可以注冊 50 個測量通道 - 可以為多層膜設置多 5 層的測量條件 - 當出現異常值時，測量值顯示在紅色報告中，并帶有顯示和警告聲

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Fascope PMP10雙聯電磁式、渦流式、渦流相位式膜厚儀 測厚儀

日本fischer雙聯電磁式、渦流式、渦流相位式膜厚儀Fascope PMP10 PHASCOPE ® PMP10 DUPLEX 三種膜厚計：電磁式、渦流式、渦流相位式。可以在一個測量過程中同時測量以鋼材為基材的復合膜（涂膜/鍍鋅膜）。

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Facescope PMP10渦流相位薄膜測厚儀

日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10 PHASCOPE ® PMP10 這是渦流相位型膜厚計。適用于測量表面粗糙的薄膜、螺絲頭、小零件、通孔鍍銅等薄膜厚度。

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FMP100 / H FMP150高性能手持式薄膜測厚儀

日本fischer高性能手持式薄膜測厚儀 FMP100 / H FMP150 DUALSCOPE ® FMP100 / H FMP150 高性能手持式膜厚計，適用于電磁型和渦流型（+ 磁型 H FMP150）。鐵質防腐涂層、鋅層等涂膜、汽車車門等中空結構件的涂膜可通過探頭同時測量。

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DUALSCOPE FMP20 / FMP40電磁/渦流手持式薄膜測厚儀

日本fischer電磁/渦流手持式薄膜測厚儀DUALSCOPE FMP20 / FMP40 DUALSCOPE ® FMP20 / FMP40 可在電磁式和渦流式之間自動切換的手持式薄膜厚度計。它可以測量大量基于鐵、鋼、鋁和銅等金屬的薄膜。

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Isoscope FMP10 / FMP30渦流型手持式膜厚儀 測厚儀

日本fischer 渦流型手持式膜厚儀Isoscope FMP10 / FMP30 ISOSCOPE ® FMP10 / FMP30 渦流型手持式膜厚計。渦流型 （DIN EN ISO 2360） 可用于測量由非磁性金屬（例如鋁和銅）、氧化鋁以及絕緣膜（例如鉻和化學鍍鎳（有條件））制成的鋁涂層。

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FMP10 / FMP30Deltascope 手持式電磁膜厚儀 測厚儀

日本fischer Deltascope 手持式電磁膜厚儀FMP10 / FMP30 DELTASCOPE ® FMP10 / FMP30 電磁手持式膜厚計。電磁型 （DIN EN ISO 2178） 可以測量非磁性薄膜，如鋅、鉻、銅、鍍鋅和基于磁性金屬（如鋼鐵）的涂層材料。

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