日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀

產品特點

<探頭頭類型>

Napson 4探針測量系統使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小模塊類型。

• （1）墨盒類型（Napson原裝） 　[產品圖片左上]
• （2）小模塊類型　[產品圖像左下方]
• （3）6針連接器類型　[產品圖片右上]
• （4）Jandel原始類型 　[產品圖片右下]

Napson的4探針法電阻/薄層電阻測量儀器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測量需要高精度的半導體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻，并且已經經過了多年的高度評估。
*由于使用了V型彈簧，因此觸針壓力始終穩定。
*上下均使用珠寶導板來固定探頭，因此具有出色的針間精度和穩定性。
*軸和刀頭是一體的，因此對刀頭的損壞很小，并且具有出色的耐用性。

日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀

測量規格

根據材料，表面條件和待測樣品的形狀選擇類型。

<推薦參考示例>

*可以使用上述以外的樣品進行測量（導電）。

*也可以使用其他類型。
*也可根據要求提供特殊規格。

（關于產品編號）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料：TC;碳化鎢（OS; alloy合金）-
針尖半徑：40μm（可能在25μm至500μm之間）-
針壓力（g /書）：200克（可能10克至250克）-
針間距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-針
排列：線性（標準）（可能是正方形）