SNK粒子數測量技術分析

發布日期：2024-01-25      瀏覽次數：856

SNK粒子數測量技術分析

光學薄膜監測技術是利用粒子可視化技術高速、實時測量粒子數量的技術。

[1] 使用粒子可視化系統

靜態計數法

使用圖像處理軟件包附帶的“ParticleEye"從粒子的可視化圖像中提取靜止圖像后，使用軟件包附帶的“ParticleEye SCF"對它們進行計數。

動態計數法

該方法使用可選軟件“ParticleEye DCF"在可視化現場進行實時計數。您還可以在錄制可視化視頻時進行計數。


ParticleEye DCF（視頻）

[2] 使用專門計數的系統

移動可視化計數裝置“Type-S"

這是一種移動式計數設備，易于現場使用，可讓您在查看手頭的監視器的同時快速調查灰塵源和泄漏點。詳情請參閱Type-S 頁面。


S型

顆粒物產生量評價裝置“P-Wind®"

可以定量評估清潔環境中使用的產品的發塵量和生產設備的機械元件的異物泄漏情況。可以精確地檢測和計數整個數量，而不會遺漏哪怕是最少量的顆粒。這是一種有別于傳統吸力式計數器的新型計數評價裝置。詳情請參閱 P-Wind 頁面。


P-Wind（圖片）

[3]構建新的計數系統

我們可以單獨承建應用可視化技術的新型顆粒物檢測和計數系統。請隨時與我們聯系。
下圖是一個可以實時檢測液體中細小顆粒的系統示例。還可用于監測化工管道等內流動的液體中的異物。


液體顆粒物監測系統（圖）